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XPR-200E显微熔点仪 上海绘统光学仪器厂

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XPR-300型透射偏光熔点测定仪是地质、矿产、冶金、石油化工、化学纤维、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校的高分子...等 专业Z常用的专业实验仪器。可供广大用户作单偏光观察,正交偏光观察,锥光观察以及显微摄影,来观察物体在加热状态下的形变、色变及物体的三态转化,该仪器采用微电脑检测
  XPR-200E显微熔点仪 上海绘统光学仪器厂的详细资料:

一、仪器的用途:

   XPR-300型透射偏光熔点测定仪是地质、矿产、冶金、石油化工、化学纤维、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校的高分子...等 专业zui常用的专业实验仪器。可供广大用户作单偏光观察,正交偏光观察,锥光观察以及显微摄影,来观察物体在加热状态下的形变、色变及物体的三态转化,该仪器采用微电脑检测,有自动PID调节,及模糊手动调节功能,通过LED显示温度值及设定温度值,仪表显示准确、清晰.稳定,对温度可设定时间间隔内或随机打印温度数据,设有上、下限自动报警装置,并可随时检查设定的温度数据,是新一代熔点测温,控温装置。配置有石膏λ、云母λ/4试片、石英楔子和移动尺等附件,本仪器的具有可扩展性,可以接计算机和数码相机。对图片进行保存、编辑和打印。是一组具有较完备功能和良好品质的新型产品。

二、技术参数

1.目镜

类 别

放大倍数

视场(mm)

平场目镜

10X

φ18

分划目镜

10X

φ18



   2.物镜

类 别

放大倍数

数值孔径(NA)

盖玻片厚度(mm)

无应力平场消色差

物镜

4X

0.10

-

10X

0.25

-

40X

0.65

0.17

60X

0.85

0.17



3.光学放大倍数:40X -- 600X    

4.系统放大倍数:40X-2600X
5.旋转载物台:可拆卸移动机构   移动范围:30mm×40mm
6.调焦机构:同轴共轨式粗微动调焦
7.调节范围 26mm,微动格值 0.002 mm,带锁紧和限位装置
8.透射照明:起偏器可360°旋转,有090180270四个读数光源6V/20W卤素灯,亮度可调阿贝聚光镜 N.A=1.25 可上下升降
9.中间接筒:内置检偏器,可自由切换正常观察与偏光观察,90°旋转,带刻度,游标格值                          12′补偿器:石膏λ片,云母λ/4片,石英契子
10.防霉功能:特有的防霉系统

 

 

三、系统简介

偏光熔点测定仪系统是将精密的光学显微镜技术、先进的光电转换技术、*的计算机图像处理技术*地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。可以在显示屏上很方便地观察实时动态图像,并能将所需要的图片进行编辑、保存和打印。

四、热台:

1.显微精密控温仪
    在 20X 物镜下工作温度可达到zui高300 ℃ 、温度运行程序全自动控制;温度程序段由用户自行设定,30段温度编程,循环操作,能准确反映设定温度、炉芯温度、样品的实际温度。每段设定起始温度,及在该段内可维持时间,升温速率可调、精度±0.3 ℃、记忆点读数


  2.显微加热平台
    可以随载物台移动、工作区加热面积大、透光区域可调、工作区温度梯度低于± 0.1
    起始温度室温
    工作区加热使用面积至少1X1cm
    工作区温度梯度不超过 ± 0.1oC
    透光区域 2mm以上,可调
    显示温度与实际温度误差不超过 ± 0.2
    热台可以随载物台移动
    熔点测定 温度超过100度时,25X的物镜工作距离太近,容易损坏镜头,请选用长工作距离的 20X40X 物镜

 

五、系统组成

电脑型偏光热台(XPR-300C):1、偏光显微镜 2、热台 3.摄像器(CCD) 4.A/D(图像采集)  5、热台 6、计算机
数码型偏光热台(XPR-300D):1、偏光显微镜 2、热台 3、数码相机系统 4.热台

 

六、选购件

     1高像素成像系统      2.偏光显微镜分析软件

   

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