一、仪器的用途 透反射热台偏光显微镜是地质、矿产、冶金、石油化工、化学纤维、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校的高分子等专业zui常用的专业实验仪器。与光学或电子显微镜配合使用,在微观上观察其溶化、升华、结晶过程中的状态和各种变化。 专为材料学、生物化学、冶金学、有机化学、高分子材料学而研制。观察高聚物熔融和结晶过程中的形态,结晶速率及动力学计算;观察双折射体的光学效应;微生物形貌观察;组织细胞核、壁形态观察;地质材料偏光形态观察;无机晶体材料观察,特别对含有结晶体的材料进行热性能变化的研究更为重要。 |
二、技术参数
1.目镜
类别 | 放大倍数 | 视场(mm) |
大视野目镜 | 10X | φ18 |
分划目镜 | 10X | φ18 |
2.物镜
类别 | 放大倍数 | 数值孔径(NA) | 盖玻片厚 |
无应力平场 消色差物镜 | 5X | 0.12 | - |
10X | 0.25 | - |
40X | 0.65 | - |
60X | 0.85 | - |
3.光学放大倍数:50X--600X 系统放大:50X-2200X
4.目镜管:转轴式(倾斜30°),内置检偏器,可自由切换正常观察与偏光观察,推入式
勃氏镜,中心可调,λ补偿器,λ/4 补偿器,石英锲补偿器
5.透射照明:6V 20W卤素灯,亮度可调,起偏器可360°旋转有0、90、180、270四个读数
反射照明: 6V 20W卤素灯,亮度可调, 起偏器可旋转;
6.载物台:机械式附加旋转台面 尺寸 φ100mm, 360°旋转
7.调焦机构:粗微动同轴,齿轮转动 , 带限位及调节松紧机构
8.聚光镜:阿贝聚光镜NA1.25,升降上下可调
9.防霉系统:*防霉
10.成像系统:配置日本JVC高像素CCD,像素达47万;
11.高精熔点测定仪(具体参数见熔点仪资料)
①精密温度控制仪显示窗口由上下二排四组数子及文字(英文)组成。
上排:温度测量显示组,下排 :温度设定显示组. 数显方式:整数显示
②恒温范围:室温---400℃, 恒温精度:全范围≤±0.5℅, 恒温系统波动度:±1℃
如作熔点测量,则只能间接测量;必须通过标准物质熔点校正得到修正值后,再进行测量.
此仪器只能测量相对温度,不能测量温度; 仪器显示温度不等于物质的实际温度.
③温度速度:可设置升温速度范围(可调):0.5---36秒/℃
zui大升温速度:室温---100℃≤40秒
zui慢升温速度达36秒/℃,达400℃时间:240分钟
即刻恒温响应时间:≤0.01秒
④热台尺寸: 厚度:12mm; 大小:Φ110mm; 高温区: Φ30mm, 通光孔: Φ4mm
⑤热台的外体与高温度采用三根陶瓷分开隔热;在中心温度400℃,室温25℃时,热台外
体温度≤70℃,热台zui大载物重量:200克
⑥热台传感器:高精度的双传感器,连接热台与温控仪
三、系统组成
电脑型 (XPR-400C):1.显微镜 2.适配镜 3.摄像器 4.A/D(图像采集) 5.N型热台
数码型 (XPR-400D):1.显微镜 2.适配镜 3.数码相机 4.N型热台
四、总放大参考倍数
XPR-400C型:50--3400倍 XPR-400D型:50--2000倍
五、选购件
1.目镜:16X(Φ11mm) 2.物镜:20X 50X 80X 100X
3.移动尺(30X25mm) 4.图像测量软件
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